SIMULATION : ‪‪Onde sur une corde‬

Animation Fourier : Addition de signaux sinusoïdaux Sujets Ondes Sinus Cosinus Description Apprenez à faire des ondes de toutes les formes différentes en ajoutant des sinus ou des cosinus. Echantillon d'objectifs d'apprentissage Version 3.06 Logiciel Tracker What is Tracker? Tracker is a free video analysis and modeling tool built on the Open Source Physics (OSP) Java framework. It is designed to be used in physics education. Tracker video modeling is a powerful way to combine videos with computer modeling. For more information see Particle Model Help or AAPT Summer Meeting posters Video Modeling (2008) and Video Modeling with Tracker (2009). Installing and using Tracker To install Tracker, download and run the appropriate installer using the links at the top of the page. Supported languages: english, arabic, catalan, czech, danish, german, greek, spanish, finnish, french, hungarian, indonesian, italian, hebrew, korean, latvian, malaysian, dutch, polish, portuguese, russian, slovak, slovenian, swedish, thai, turkish, ukrainian, vietnamese, simplified chinese, traditional chinese. If you're new to Tracker, see Help Getting Started for a step-by step beginner's guide or Getting Started with Tracker for a video tutorial. Supported Video Formats

Technologies - Les microscopes - Le microscope à force atomique (AFM), simple et polyvalent Vu de très près, la surface d’un matériau est un vrai champ de forces. Les atomes « crochus » s’attirent et ceux qui sont déjà liés à d’autres repoussent les intrus. Entre deux atomes, l’attraction, qui met en jeu les forces de Van der Waals, permet de former des molécules ou des cristaux tandis que leurs nuages électroniques se repoussent mutuellement. Puisque ces forces sont très faibles, il faut rester à des distances très petites pour les sentir. Le microscope à force atomique Durée:3'18 | Date: 19 Mai 2008 Découvrez l’un des microscopes à force atomique de la plate-forme et notamment le fonctionnement de sa pointe en silicium. En principe Lorsque la pointe du microscope AFM se déplace sur la surface, elle fait ployer son support, le micro levier ou « cantilever » fait le plus souvent de silicium. Principe du microscope à force atomique (AFM) © C. Il y a trois façons d’utiliser la pointe de l'AFM : Dans le mode contact, la pointe appuie sur la surface. En pratique